Топтун А, Саєнко С, Ощепков Н, Мироненко Д, Бондаренко М. ВПЛИВ НІТРАТНИХ ЕЛЕКТРОЛІТІВ У РІДИННІЙ КОМІРЦІ АТОМНО-СИЛОВОЇ МІКРОСКОПІЇ НА ТОЧНІСТЬ ВИМІРЮВАННЯ МІКРОРЕЛЬЄФУ МІКРОЕЛЕКТРОННИХ КОМПОНЕНТІВ. Bull. Kyiv Polytech. Inst. Ser. Instrum. Mak. [інтернет]. 26, Грудень 2025 [цит. за 13, Січень 2026];(70(2):12-20. доступний у: https://visnykpb.kpi.ua/article/view/347953