Топтун, Анна, Сергій Саєнко, Назар Ощепков, Денис Мироненко, і Максим Бондаренко. «ВПЛИВ НІТРАТНИХ ЕЛЕКТРОЛІТІВ У РІДИННІЙ КОМІРЦІ АТОМНО-СИЛОВОЇ МІКРОСКОПІЇ НА ТОЧНІСТЬ ВИМІРЮВАННЯ МІКРОРЕЛЬЄФУ МІКРОЕЛЕКТРОННИХ КОМПОНЕНТІВ». Вісник Київського політехнічного інституту. Серія Приладобудування, no. 70(2) (Грудень 26, 2025): 12–20. дата звернення Січень 13, 2026. https://visnykpb.kpi.ua/article/view/347953.