Топтун, А., С. Саєнко, Н. Ощепков, Д. Мироненко, і М. Бондаренко. «ВПЛИВ НІТРАТНИХ ЕЛЕКТРОЛІТІВ У РІДИННІЙ КОМІРЦІ АТОМНО-СИЛОВОЇ МІКРОСКОПІЇ НА ТОЧНІСТЬ ВИМІРЮВАННЯ МІКРОРЕЛЬЄФУ МІКРОЕЛЕКТРОННИХ КОМПОНЕНТІВ». Вісник Київського політехнічного інституту. Серія Приладобудування, вип. 70(2), Грудень 2025, с. 12-20, doi:10.20535/1970.70(2).2025.347953.