А. Топтун, С. Саєнко, Н. Ощепков, Д. Мироненко, і М. Бондаренко, «ВПЛИВ НІТРАТНИХ ЕЛЕКТРОЛІТІВ У РІДИННІЙ КОМІРЦІ АТОМНО-СИЛОВОЇ МІКРОСКОПІЇ НА ТОЧНІСТЬ ВИМІРЮВАННЯ МІКРОРЕЛЬЄФУ МІКРОЕЛЕКТРОННИХ КОМПОНЕНТІВ», Bull. Kyiv Polytech. Inst. Ser. Instrum. Mak., вип. 70(2), с. 12–20, Груд 2025.