Топтун, А., Саєнко, С., Ощепков, Н., Мироненко, Д. і Бондаренко, М. (2025) «ВПЛИВ НІТРАТНИХ ЕЛЕКТРОЛІТІВ У РІДИННІЙ КОМІРЦІ АТОМНО-СИЛОВОЇ МІКРОСКОПІЇ НА ТОЧНІСТЬ ВИМІРЮВАННЯ МІКРОРЕЛЬЄФУ МІКРОЕЛЕКТРОННИХ КОМПОНЕНТІВ», Вісник Київського політехнічного інституту. Серія Приладобудування, (70(2), с. 12–20. doi: 10.20535/1970.70(2).2025.347953.