Топтун, Анна, Сергій Саєнко, Назар Ощепков, Денис Мироненко, і Максим Бондаренко. 2025. «ВПЛИВ НІТРАТНИХ ЕЛЕКТРОЛІТІВ У РІДИННІЙ КОМІРЦІ АТОМНО-СИЛОВОЇ МІКРОСКОПІЇ НА ТОЧНІСТЬ ВИМІРЮВАННЯ МІКРОРЕЛЬЄФУ МІКРОЕЛЕКТРОННИХ КОМПОНЕНТІВ». Вісник Київського політехнічного інституту. Серія Приладобудування, вип. 70(2) (Грудень):12-20. https://doi.org/10.20535/1970.70(2).2025.347953.