ТОПТУН, А.; САЄНКО, С.; ОЩЕПКОВ, Н.; МИРОНЕНКО, Д.; БОНДАРЕНКО, М. ВПЛИВ НІТРАТНИХ ЕЛЕКТРОЛІТІВ У РІДИННІЙ КОМІРЦІ АТОМНО-СИЛОВОЇ МІКРОСКОПІЇ НА ТОЧНІСТЬ ВИМІРЮВАННЯ МІКРОРЕЛЬЄФУ МІКРОЕЛЕКТРОННИХ КОМПОНЕНТІВ. Вісник Київського політехнічного інституту. Серія Приладобудування, [S. l.], n. 70(2), p. 12–20, 2025. DOI: 10.20535/1970.70(2).2025.347953. Disponível em: https://visnykpb.kpi.ua/article/view/347953. Acesso em: 19 квіт. 2026.