Топтун, А., Саєнко, С., Ощепков, Н., Мироненко, Д., & Бондаренко, М. (2025). ВПЛИВ НІТРАТНИХ ЕЛЕКТРОЛІТІВ У РІДИННІЙ КОМІРЦІ АТОМНО-СИЛОВОЇ МІКРОСКОПІЇ НА ТОЧНІСТЬ ВИМІРЮВАННЯ МІКРОРЕЛЬЄФУ МІКРОЕЛЕКТРОННИХ КОМПОНЕНТІВ. Вісник Київського політехнічного інституту. Серія Приладобудування, (70(2), 12–20. https://doi.org/10.20535/1970.70(2).2025.347953