Топтун, А.; Саєнко, С.; Ощепков, Н.; Мироненко, Д.; Бондаренко, М. ВПЛИВ НІТРАТНИХ ЕЛЕКТРОЛІТІВ У РІДИННІЙ КОМІРЦІ АТОМНО-СИЛОВОЇ МІКРОСКОПІЇ НА ТОЧНІСТЬ ВИМІРЮВАННЯ МІКРОРЕЛЬЄФУ МІКРОЕЛЕКТРОННИХ КОМПОНЕНТІВ. Bull. Kyiv Polytech. Inst. Ser. Instrum. Mak. 2025, 12-20.