ОЦІНЮВАННЯ ВІДТВОРЮВАНОСТІ РЕЗУЛЬТАТІВ ВИПРОБУВАНЬ ІНФОРМАЦІЙНО-ВИМІРЮВАЛЬНОЇ СИСТЕМИ ДЛЯ ВИМІРЮВАННЯ ГЕОМЕТРИЧНИХ ПАРАМЕТРІВ ФУНКЦІОНАЛЬНИХ МІКРОСТРУКТУР

Автор(и)

DOI:

https://doi.org/10.20535/1970.70(2).2025.348012

Ключові слова:

міжлабораторна узгодженість, метрологічна сумісність, сканувальна зондова мікроскопія, стандартне відхилення, калібрувальний тест-зразок

Анотація

У статті основну увагу зосереджено на ключовій властивості таких інформаційно-вимірювальних систем (ІВС), а саме: здатності давати стабільні результати за зміни умов і виконавців. Адже саме відтворюваність визначає довіру до виміряних параметрів і можливість їхнього практичного використання. Постановка проблеми статті ґрунтувалася на тих фактах, що при дослідженні мікроструктур необхідно дотримуватися числово обґрунтованих меж допустимих розбіжностей між лабораторіями для комплексів, що поєднують сканувальні зонди, вимірювальну електроніку та програмні модулі оброблення. Аналіз попередніх досліджень показав, що наявні роботи переважно обмежувалися внутрішньолабораторними перевірками повторюваності й не давали міжлабораторних свідчень узгодженості для інтегрованих ІВС, а також рідко пропонували прозорі критерії прийнятності для контролю якості. Метою роботи є кількісне підтвердження відтворюваності результатів випробувань ІВС і встановлення зрозумілих порогових значень для подальшої валідації вимірювань мікроструктур. В роботі виконано дві незалежні серії по 32 вимірювання у двох лабораторіях на контрольному тест-зразку з використанням сканувальної зондової мікроскопії та розробленої ІВС на базі приладу NT-206.

Отримані протоколи було гармонізовано, а порядок вимірювань рандомізовано. Проведене калібрування еталона, його статистичне опрацювання включало виділення лабораторного фактора, оцінювання дисперсій компонентів і побудову 95% меж згоди. Для обох серій зразків було отримане однакове середнє значення мікрогеометрії поверхні на рівні 10,48 нм. Суми квадратів відхилень при цьому складали, відповідно, 0,0512 і 0,0480 за дисперсії міжсерійної відтворюваності 0,0032 і стандартного відхилення 0,056. При цьому, гранична різниця при 95% довіри становить R = 0,155, тоді як максимальна спостережена різниця між лабораторіями дорівнює 0,08 (розподіли залишків нормальні, трендів за порядком вимірювань і систематичного зсуву не виявлено). В результаті випробувань результати отримані на ІВС є стабільними та метрологічно сумісними між лабораторіями.

Запропонована процедура оцінювання відтворюваності придатна для включення до регламентів валідації, а встановлені порогові значення можуть слугувати базою для регулярного міжлабораторного контролю й масштабування на інші параметри та сценарії вимірювань при розроблені та дослідженні функціональних мікроструктур.

Біографії авторів

Віталій Андрейко, Черкаський державний технологічний університет

аспірант кафедри приладобудування, мехатроніки та комп‘ютеризованих технологій

Ігор Жайворонок, Черкаський державний технологічний університет

пошукач кафедри приладобудування, мехатроніки та комп‘ютеризованих технологій

Сергій Мацепа, Черкаський державний технологічний університет

старший викладач кафедри технології та обладнання машинобудівних виробництв

Оксана Волошко, Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського»

асистент кафедри комп’ютерно-інтегрованих технологій виробництва приладів

Дмитро Жуйков , Харківський національний університет повітряних сил імені Івана Кожедуба

доцент кафедри військово-технічної і військово-спеціальної підготовки факультету підготовки офіцерів запасу за контрактом, Харківський національний університет Повітряних Сил імені Івана Кожедуба,
кандидат технічних наук, доцент

Посилання

B. Chen, Z. Feng, F. Z. Yao, M. H. Zhang, K. Wang, Y. Wei, & J. Rödel, “Flexible piezoelectrics: integration of sensing, actuating and energy harvesting”, Flexible Electronics, vol. 9, no. 1, 58, 2025. DOI: 10.1038/s41528-025-00432-5

B. Sharma, & A. Sharma, “Microfluidics: Recent Advances Toward Lab-on-Chip Applications in Bioanalysis”, Adv. Eng. Mater., vol. 24, no. 2, 2100738, 2022. DOI: 10.1002/adem.202100738.

S. B. Yoo, S. H. Yun, A. J. Jo, & et al., “Automated measurement and analysis of sidewall roughness using three-dimensional atomic force microscopy”, Appl. Microsc., vol. 52, 1, 2022. DOI: 10.1186/s42649-022-00070-5.

V. Alar, A. Razumić, B. Runje, I. Stojanović, M. Kurtela, & B. Štrbac, "Application of Areal Topography Parameters in Surface Characterization," Applied Sciences, vol. 15, no 12, 6573, 2025. https://doi.org/10.3390/app15126573. ISSN 2076-3417.

K. Palová, T. Kelemenová, & M. Kelemen, “Measuring Procedures for Evaluating the Surface Roughness of Machined Parts”, Applied Sciences, vol. 13, no. 16, 9385, 2023. DOI: 10.3390/app13169385.

A. Razumić, B. Runje, Z. Keran, Z. Trzun i D. Pugar, "Reproducibility of Areal Topography Parameters Obtained by Atomic Force Microscope", Tehnički glasnik, vol. 19, no. si1, pp. 1-6, 2025. DOI: 10.31803/tg-20250324183037.

C. Engler, A. Georgiadis, D. Lange, & N. Meier, “New method for assessing the repeatability of the measuring system for roughness measurements”, International Journal of Metrology and Quality Engineering, vol. 15, no. 10, 2024. DOI: 10.1051/ijmqe/2024008.

V. Kvasnikov, M. Kataieva, , & T. Shkvarnytska, "Rozrobka metodu kalibruvannia skanuiuchoho zondovoho mikroskopu (Development of a calibration method for a scanning probe microscope)," Measuring and Computing Devices in Technological Processes, is. 2, pp. 74–80, Dec 2021. DOI: 10.31891/2219-9365-2021-68-2-9.

V.Ia. Pavlenko, S.V. Shornikova, S.V. Lukianiuk, & S.Iu. Chaikovskyi, "Perspektyvni rishennia shchodo avtomatyzatsii metodiv vymiriuvannia v nanometrychnomu diapazoni (Promising solutions for the automation of measurement methods in the nanometre range)," Tekhnichna inzheneriia, is. 2 (88), pp. 50–54, 2021. https://doi.org/10.26642/ten-2021-2(88)-50-54.

S. Iefymenko, I. Hryhorenko, Yu. Khoroshailo, & S. Hryhorenko, "Zastosuvannia kovariatsiinoho analizu dlia vyznachennia faktornoho vplyvu na parametr kontroliu pry kolorymetrychnomu doslidzhenni," Ukrainskyi metrolohichnyi zhurnal, no 3, pp. 49-55, 2022. https://doi.org/10.24027/2306-7039.3.2022.269783.

L. Ribotta, A. Delvallée, E. Cara, & et al., “AFM interlaboratory comparison for nanodimensional metrology on silicon nanowires”, Measurement Science and Technology, vol. 35, no.10, 105014, 2024. DOI: 10.1088/1361-6501/ad5e9f.

J. W. Bartlett, & C. Frost, “Reliability, repeatability and reproducibility: analysis of measurement errors in continuous variables”, Ultrasound Obstet Gynecol, vol. 31, no. 4, pp. 466-475, 2008. DOI: 10.1002/uog.5256

H. Wickham, W. Chang & et al. Dynamic Visualizations, 2024. [Online]. Available: https://cran.r-project.org/web/packages/ggvis/index.html.

A. Cataldo, E. Cataldo, A. Masciullo, & R. Schiavoni, "Development and Metrological Characterization of Low-Cost Wearable Pulse Oximeter," Bioengineering, vol.12, no 3, 314, 2025. https://doi.org/10.3390/bioengineering12030314.

G. Fitzmaurice, "Statistical methods for assessing agreement," Nutrition, vol. 18, no 7-8, pp. 694-696, 2002. https://doi.org/10.1016/S0899-9007(02)00802-X.

##submission.downloads##

Опубліковано

2025-12-26

Як цитувати

[1]
В. Андрейко, І. Жайворонок, С. Мацепа, О. Волошко, і Д. . Жуйков, «ОЦІНЮВАННЯ ВІДТВОРЮВАНОСТІ РЕЗУЛЬТАТІВ ВИПРОБУВАНЬ ІНФОРМАЦІЙНО-ВИМІРЮВАЛЬНОЇ СИСТЕМИ ДЛЯ ВИМІРЮВАННЯ ГЕОМЕТРИЧНИХ ПАРАМЕТРІВ ФУНКЦІОНАЛЬНИХ МІКРОСТРУКТУР», Bull. Kyiv Polytech. Inst. Ser. Instrum. Mak., вип. 70(2), с. 62–70, Груд 2025.

Номер

Розділ

ВИСОКОЕФЕКТИВНІ ТЕХНОЛОГІЧНІ ПРОЦЕСИ В ПРИЛАДОБУДУВАННІ