Yegorov, A., V. Yegorov, S. Yegorov, L. Yelenskaya, і I. Sinelnikov. «ДОСЛІДЖЕННЯ ТЕМПЕРАТУРНИХ ЕФЕКТІВ ПРИ РЕЄСТРАЦІЇ СПЕКТРІВ ФОТОЕЛЕКТРИЧНИМИ ДЕТЕКТОРАМИ». Вісник Київського політехнічного інституту. Серія Приладобудування, вип. 48(2), Грудень 2014, с. 74-80, doi:10.20535/1970.48(2).2014.36034.