[1]
A. Yegorov, V. Yegorov, S. Yegorov, L. Yelenskaya, і I. Sinelnikov, «ДОСЛІДЖЕННЯ ТЕМПЕРАТУРНИХ ЕФЕКТІВ ПРИ РЕЄСТРАЦІЇ СПЕКТРІВ ФОТОЕЛЕКТРИЧНИМИ ДЕТЕКТОРАМИ», Bull. Kyiv Polytech. Inst. Ser. Instrum. Mak., вип. 48(2), с. 74–80, Груд 2014.