YEGOROV, A.; YEGOROV, V.; YEGOROV, S.; YELENSKAYA, L.; SINELNIKOV, I. ДОСЛІДЖЕННЯ ТЕМПЕРАТУРНИХ ЕФЕКТІВ ПРИ РЕЄСТРАЦІЇ СПЕКТРІВ ФОТОЕЛЕКТРИЧНИМИ ДЕТЕКТОРАМИ. Вісник Київського політехнічного інституту. Серія Приладобудування, [S. l.], n. 48(2), p. 74–80, 2014. DOI: 10.20535/1970.48(2).2014.36034. Disponível em: http://visnykpb.kpi.ua/article/view/36034. Acesso em: 21 лис. 2024.