Yegorov, A., Yegorov, V., Yegorov, S., Yelenskaya, L., & Sinelnikov, I. (2014). ДОСЛІДЖЕННЯ ТЕМПЕРАТУРНИХ ЕФЕКТІВ ПРИ РЕЄСТРАЦІЇ СПЕКТРІВ ФОТОЕЛЕКТРИЧНИМИ ДЕТЕКТОРАМИ. Вісник Київського політехнічного інституту. Серія Приладобудування, (48(2), 74–80. https://doi.org/10.20535/1970.48(2).2014.36034