[1]
Yegorov, A., Yegorov, V., Yegorov, S., Yelenskaya, L. і Sinelnikov, I. 2014. ДОСЛІДЖЕННЯ ТЕМПЕРАТУРНИХ ЕФЕКТІВ ПРИ РЕЄСТРАЦІЇ СПЕКТРІВ ФОТОЕЛЕКТРИЧНИМИ ДЕТЕКТОРАМИ. Вісник Київського політехнічного інституту. Серія Приладобудування. 48(2) (Груд 2014), 74–80. DOI:https://doi.org/10.20535/1970.48(2).2014.36034.