ПОЛІПШЕННЯ МЕТРОЛОГІЧНИХ ХАРАКТЕРСТИК ІМПУЛЬСНИХ ЛАЗЕРНИХ ДАЛЕКОМІРІВ ФІНІШНОЮ ЕЛЕКТРОННО-ПРОМЕНЕВОЮ ОБРОБКОЮ ЇХ ОПТИЧНИХ ДЕТАЛЕЙ

Автор(и)

  • Irina V. Yatsenko Черкаський державний технологічний університет, Ukraine
  • Victor S. Antoniyk Національний технічний університет України “Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського”, Ukraine https://orcid.org/0000-0003-0690-2411
  • Valentine Hordienko Державне підприємство Науково-виробничий комплекс “Фотоприлад”, м Черкаси, Ukraine
  • Oksana V. Kyrychenko Черкаський інститут пожежної безпеки імені Героїв Чорнобиля Національного університету цивільного захисту України, Ukraine
  • Volodymyr Kholin Приватне мале виробниче підприємство “Фотоніка Плюс”, м Черкаси, Ukraine

DOI:

https://doi.org/10.20535/1970.52(2).2016.92765

Ключові слова:

точне приладобудування, імпульсні лазерні далекоміри, електронний промінь, оптичне скло, метрологічні характеристики

Анотація

Для попередження негативного впливу зовнішніх термічних дій на метрологічні характеристики (точність, діапазони вимірювання та ін.) імпульсних лазерних далекомірів прицільних комплексів практичне значення має фінішна електронно-променева обробка поверхонь їх оптичних елементів, яка запобігає виникненню дефектів на поверхні елементів (тріщин, відшарувань, сколів, напливів та ін.), що призводять до різкого погіршення характеристик приладів та їх відмов при експлуатації.

Метою роботи є покращення метрологічних характеристик імпульсних лазерних далекомірів при експлуатації в умовах зовнішнього термовпливу. Проведено експериментальні дослідження та встановлено критичні значення параметрів зовнішніх термодій (теплового потоку та часу його дії), перевищення яких призводить до утворення на поверхні елементів негативних дефектів, що призводять до їх руйнування.

Встановлено оптимальні діапазони зміни параметрів електронного променю (густини теплової дії Fn = 7∙106…8∙108 Вт/м2 та швидкості переміщення V = 5∙10-3…5∙10-2 м/с), в межах яких спостерігається максимальне покращення властивостей поверхневих шарів оптичних елементів.

При цьому не відбувається утворення негативних дефектів на їх поверхнях, збільшується коефіцієнт пропускання ІЧ-випромінювання елементами у 1,4…1,6 рази, що дозволяє збільшити точність та розширити діапазони вимірювання дальності імпульсними лазерними далекомірами у 1,2…1,5 разу

Біографії авторів

Irina V. Yatsenko, Черкаський державний технологічний університет

кандидат технічних наук, доцент, кафедра електротехнічних систем

Victor S. Antoniyk, Національний технічний університет України “Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського”

доктор технічних наук, проф., акад. Академії інженерних наук, лауреат Державної премії України в галузі науки і техніки, кафедра виробництва приборов

Valentine Hordienko, Державне підприємство Науково-виробничий комплекс “Фотоприлад”, м Черкаси

д.т.н., Заступник генерального директора з науки-головний конструктор

Oksana V. Kyrychenko, Черкаський інститут пожежної безпеки імені Героїв Чорнобиля Національного університету цивільного захисту України

д. т. н., доцент, кафедра пожежно-профілактичної роботи

Volodymyr Kholin, Приватне мале виробниче підприємство “Фотоніка Плюс”, м Черкаси

директор

Посилання

Tarasov V. V., Yakushenkov Iu. H., Ynfrakrasnye systemy “smotriashcheho” typa. Moscow: Lohos, 2004. 444 p. (in Russian)

Vashchenko V. A., Kotelnykov D. Y., Leha Iu. H., Krasnov D. M., Yatsenko Y. V., Kyrychenko O. V., Teplovye protsessy pry elektronnoi obrabotke optycheskykh materyalov y ekspluatatsii izdelyi na ikh osnove. Kyiv: Naukova dumka, 2006. 368 p. (in Russian)

Hlushchenko A. R., Hordyenko V. Y., Burak A. V., Denysenko A. Iu. Tankovye nochnye systemy i prybory nabliudenyia. Cherkassy: Fotoprybor, 2007. 441 p. (in Russian)

Hlushchenko A. R., Hordyenko V. Y., Burkovskyi A. A. i dr. Lazernye systemy tankovykh prytselov. Cherkassy: Maklaut, 2009. 600 p. (in Russian)

Bochok M. P., Budko N. P., Vashchenko V. A., Kanashevych H. V., Kotelnykov D. I. Spetsialni metody obrobky optychnoho skla. Navchalnyi posibnyk. Chernihiv: Chernihivskyi derzhavnyi tekhnolohichnyi universytet, 2001. 215 p. (in Russian)

Dubrovskaia H. N., Kanashevych H. V., Vashchenko V. A., Kotelnykov D. Y., Yatsenko Y. V., “Poluchenye funktsyonalnykh sloev v optycheskom stekle y keramyke metodom эlektronnoi obrabotky,” Mezhdunarodnyi nauchno-praktycheskyi sympozyum “Funktsyonalnye pokrytyia na steklakh”: Sbornyk dokladov. Kharkov: NTTs KhFTY “Konstanta”, pp. 135 – 1372003. (in Russian)

Yatsenko I. V., “Doslidzhennia zalezhnostei enerhetychnykh kharakterystyk SEP vid yoho kerovanykh parametriv pry vplyvi na vyroby mikrooptyky i intehralnoi optyky,” Sb. “Trudy Odesskoho polytekhnycheskoho unyversyteta”, is. 2(32), pp. 143-149, 2009. (in Russian)

Vashchenko V. A., Yatsenko I. V.,. Leha Iu. H,. Kyrychenko O. V. Osnovy elektronnoi obrobky vyrobiv z optychnykh materialiv. Kyiv: Naukova dumka, 2011. 562 p. (in Ukrainian)

Yatsenko I., Antoniuk V., Bondarenko M., Vashchenko V., “Influence of parameters by electronic ray on properties of superficial layers of optical elements of exact instrument-making,” International journal for science and innovations for the industry “Innovations in discrete productions”, YEAR III, ISSUE 1/2015, Sofia, pp. 13 – 15, 2015.

Yatsenko I. V., Antoniuk V. S., Vashchenko V. A., Tsybulyn V. V., “Opredelenye krytycheskykh znachenyi parametrov vneshnykh termovozdeistvyi na poverkhnost obtekatelei YK-pryborov v uslovyiakh vystrela i poleta,” Ezhemesiachnyi nauchno-tekhnycheskyi y proyzvodstvennyi zhurnal “Nanoynzheneryia”, № 12(54), pp. 20 – 25, 2015. (in Russian)

Yatsenko I. V., Antoniuk V. S., Vashchenko V. A., Tsybulyn V. V., “Uprezhdenye vozmozhnykh razrushenyi optycheskykh obtekatelei YK-pryborov v uslovyiakh vystrela i poleta,” Ezhemesiachnyi nauchno-tekhnycheskyi y proyzvodstvennyi zhurnal “Nanoynzheneryia”, № 12(54), pp. 26 – 31, 2015. (in Russian)

Yatsenko I. V., Antoniuk V. S., Vashchenko V. A., Tsybulin V. V., “Poperedzhennia mozhlyvykh ruinuvan optychnykh elementiv tochnoho pryladobuduvannia v umovakh zovnishnikh termodii,” Zhurnal nano- ta elektronnoi fizyky, vol. 8, pp. 01027 – 01032, 2016. (in Ukrainian)

Yatsenko І. V., “Experimental and statistical models of impact determination of the electron ray parameters on surface layers properties of optical elements in precision instruments building,” Pratsi. Odes’kyi politechnichnyi universytet, Issue 1(48), – pp. 63 – 69, 2016.

Yatsenko. I, Antonyuk V., Kyrychenko O., Vashchenko V., “Improving the reliability instruments of measuring and thermal control of objects of different physical nature by the finish of electron beam processing surfaces of optical elements,” Machines. technologies. materials. International journal for science, technics and innovations for the industry. YEAR ХI, Issue 1/2017, pp. 20-23.

Okatov M. A., Antonov E. A., Baihozhyn A. B. Spravochnyk optyka-tekhnoloha. SPb.: Polytekhnyka, 2004. 679 p. (in Russian)

Enhel L., Klynhele H. Rastrovaia elektronnaia mykroskopyia. Moscow: Metallurhyia, 1986. 374 p. (in Russian)

Dubrovska H. M., Kanashevych H. V., Bozhko N. I. Prylady zastosuvannia fizychnykh metodiv doslidzhennia struktury poverkhni. Silkhet: Shobuzh Biponi, Udoun Ofset Prynters, 2007. 248 p. (in Russian)

HOST 3520-92. Materyaly optycheskye. Metody opredelenyia pokazatelei oslablenyia. (in Russian)

##submission.downloads##

Опубліковано

2016-12-30

Як цитувати

[1]
I. V. Yatsenko, V. S. Antoniyk, V. Hordienko, O. V. Kyrychenko, і V. Kholin, «ПОЛІПШЕННЯ МЕТРОЛОГІЧНИХ ХАРАКТЕРСТИК ІМПУЛЬСНИХ ЛАЗЕРНИХ ДАЛЕКОМІРІВ ФІНІШНОЮ ЕЛЕКТРОННО-ПРОМЕНЕВОЮ ОБРОБКОЮ ЇХ ОПТИЧНИХ ДЕТАЛЕЙ», Bull. Kyiv Polytech. Inst. Ser. Instrum. Mak., вип. 52(2), с. 52–58, Груд 2016.

Номер

№ 52(2) (2016)

Розділ

НАУКОВІ ТА ПРАКТИЧНІ ПРОБЛЕМИ ВИРОБНИЦТВА ПРИЛАДІВ ТА СИСТЕМ

Ліцензія

Авторське право на публікацію залишається за авторами.

Автори можуть використовувати власні матеріали в інших публікаціях за умови посилання на збірник наукових праць "Вісник Київського політехнічного інституту. Серія ПРИЛАДОБУДУВАННЯ" як на перше місце видання та на Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського»  як на видавця.

Автори публікують свої статті в збірнику на умовах ліцензії Creative Commons:

  1. Автори залишають за собою право на авторство своєї роботи та передають журналу право першої публікації цієї роботи на умовах ліцензії CC BY 4.0, яка дозволяє іншим особам вільно розповсюджувати опубліковану роботу з обов'язковим посиланням на авторів оригінальної роботи та першу публікацію роботи у цьому журналі.
  2. Автори мають право укладати самостійні додаткові угоди щодо неексклюзивного розповсюдження роботи у тому вигляді, в якому вона була опублікована цим журналом (наприклад, розміщувати роботу в електронному сховищі установи або публікувати у складі монографії), за умови збереження посилання на першу публікацію роботи у цьому журналі.
  3. Політика журналу дозволяє розміщення авторами в мережі Інтернет (наприклад, у сховищах установ або на особистих веб-сайтах) рукопису роботи, як до подання цього рукопису до редакції, так і під час його редакційного опрацювання, оскільки це сприяє виникненню продуктивної наукової дискусії та позитивно позначається на динаміці цитування опублікованої роботи.

 Видавець (КПІ ім. Ігоря Сікорського) має право за будь-якого використання цього видання зазначати своє ім'я або вимагати такого зазначення.

Редакційна колегія залишає за собою право розміщувати опубліковані в збірнику статті в різних інформаційних базах для надання відкритого доступу до матеріалів з метою популяризації наукових досліджень та підвищення цитованості авторів.