ПРОГНОЗУВАННЯ ТЕРМІНУ НАДІЙНОЇ ЕКСПЛУАТАЦІЇ ІНТЕГРАЛЬНИХ МІКРОСХЕМ РАДІОТЕХНІЧНИХ ПРИСТРОЇВ
DOI:
https://doi.org/10.20535/1970.48(2).2014.36046Ключові слова:
верифікація елементів пам’яті, строк служби, інтегральні мікросхеми, прогнозування, атомно-силова мікроскопіяАнотація
Запропонована методика верифікації інтегральних мікросхем на прикладі елементів пам’яті з використанням тестів, що добре корелює з побудованою математичною залежністю безвідмовності роботи від часу експлуатації таких елементів. Встановлено, що виникнення помилок в роботі пам’яті пов’язано з виникненням дефектів, сколів і погіршення стану поверхні елементів пам’яті. Визначена залежність часу надійної експлуатації інтегральних мікросхем радіотехнічних пристроїв від умов їх експлуатації, стану поверхні кремнієвого чипу та впливів зовнішнього середовища. Показана необхідність високоточного та довготривалого прогнозування часу надійної експлуатації інтегральних мікросхем, які знайшли застосування у пристроях, що експлуатуються в позаштатному режимі в екстремальних умовах (системах керування атомних електростанцій, літаків, космічних станцій тощо). Наведена перевага використання методу атомно-силової мікроскопії у прогнозуванні часу експлуатації в порівнянні з традиційними методами програмного тестування.Посилання
Antonjuk V. S., Tymchyk Gr. S., Vercanova O. V. ta іn. Mikroskopija v nanotehnologіjah./ Kyiv, NTUU «KPІ», 2014. 260 p. (In Ukrainian)
Sharapov V.M. [i dr.]. P'ezojelektricheskie preobrazovateli. Spravochnoe posobie [Piezoelectric transformers. Certificate manual] / Pod red. Sharapova V. M. Cherkassy, ChGTU Publ., 2004. 435 p. (In Russian)
Andrienko V. A., Rjabcev V. G., Utkina T. Ju. Metod i sredstva povyshenija nadezhnosti zapominajushhih ustrojstv putem zameshhenija modulej pamjati [Method and facilities of increase of reliability of storages of data by substituting for the modules of memory]. Radіoelektronnі і komp’juternі sistemi, 2007, no 6 (25), pp. 192-195. (In Russian)
Suslov A. A. [i dr.] Atomno-silovoj mikroskop NT-206: novye vozmozhnosti [Atomic-force microscope of NT-206: new possibilities] // BelSZM-6: Sbornik dokladov 6-go Belorusskogo seminara po skanirujushhej zondovoj mikroskopii, 2004. Minsk, pp. 123-130.
Obshhestvo s dopolnitel'noj otvetstvennost'ju «Mikrotestmashiny» [Society with additional responsibility of «Mikrotestmashiny»]. 2006-2013. Available at: http://microtm.com/ (accessed: 21.11.2014).
Bondarenko M. A., Antonjuk V. S., Vashhenko V. A., Bondarenko Ju. Ju., Petlevanyj P. V. Izuchenie mehanizma obrazovanija perehodnoj zony v poverhnostnom sloe p'ezokeramicheskih izdelij nanotehniki. Nanoinzhenerija, 2011, no 6, pp. 25 – 29. (In Russian)
Logitech: »: [Jelektronnyj resurs]. 2014 URL: http://logitech.com/ (accessed: 21.11.2014)
Frolov V. A. Analiz i optimizacija v prikladnyh zadachah konstruirovanija RJeS [An analysis and optimization are in the applied tasks of constructing of REC]. Kyiv, Vyshha shkola Publ., 1991. 310 p. (In Russian)
##submission.downloads##
Опубліковано
Як цитувати
Номер
Розділ
Ліцензія
Авторське право на публікацію залишається за авторами.
Автори можуть використовувати власні матеріали в інших публікаціях за умови посилання на збірник наукових праць "Вісник Київського політехнічного інституту. Серія ПРИЛАДОБУДУВАННЯ" як на перше місце видання та на Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського» як на видавця.
Автори публікують свої статті в збірнику на умовах ліцензії Creative Commons:
- Автори залишають за собою право на авторство своєї роботи та передають журналу право першої публікації цієї роботи на умовах ліцензії CC BY 4.0, яка дозволяє іншим особам вільно розповсюджувати опубліковану роботу з обов'язковим посиланням на авторів оригінальної роботи та першу публікацію роботи у цьому журналі.
- Автори мають право укладати самостійні додаткові угоди щодо неексклюзивного розповсюдження роботи у тому вигляді, в якому вона була опублікована цим журналом (наприклад, розміщувати роботу в електронному сховищі установи або публікувати у складі монографії), за умови збереження посилання на першу публікацію роботи у цьому журналі.
- Політика журналу дозволяє розміщення авторами в мережі Інтернет (наприклад, у сховищах установ або на особистих веб-сайтах) рукопису роботи, як до подання цього рукопису до редакції, так і під час його редакційного опрацювання, оскільки це сприяє виникненню продуктивної наукової дискусії та позитивно позначається на динаміці цитування опублікованої роботи.
Видавець (КПІ ім. Ігоря Сікорського) має право за будь-якого використання цього видання зазначати своє ім'я або вимагати такого зазначення.
Редакційна колегія залишає за собою право розміщувати опубліковані в збірнику статті в різних інформаційних базах для надання відкритого доступу до матеріалів з метою популяризації наукових досліджень та підвищення цитованості авторів.