ПРОГНОЗУВАННЯ ТЕРМІНУ НАДІЙНОЇ ЕКСПЛУАТАЦІЇ ІНТЕГРАЛЬНИХ МІКРОСХЕМ РАДІОТЕХНІЧНИХ ПРИСТРОЇВ

Volodymyr Andrienko, Volodymyr Ivanchenko, Artem Goncharov, Evgeniya Skorina, Victor Antonjuk

Анотація


Запропонована методика верифікації інтегральних мікросхем на прикладі елементів пам’яті з використанням тестів, що добре корелює з побудованою математичною залежністю безвідмовності роботи від часу експлуатації таких елементів. Встановлено, що виникнення помилок в роботі пам’яті пов’язано з виникненням дефектів, сколів і погіршення стану поверхні елементів пам’яті. Визначена залежність часу надійної експлуатації інтегральних мікросхем радіотехнічних пристроїв від умов їх експлуатації, стану поверхні кремнієвого чипу та впливів зовнішнього середовища. Показана необхідність високоточного та довготривалого прогнозування часу надійної експлуатації інтегральних мікросхем, які знайшли застосування у пристроях, що експлуатуються в позаштатному режимі в екстремальних умовах (системах керування атомних електростанцій, літаків, космічних станцій тощо). Наведена перевага використання методу атомно-силової мікроскопії у прогнозуванні часу експлуатації в порівнянні з традиційними методами програмного тестування.

Ключові слова


верифікація елементів пам’яті; строк служби; інтегральні мікросхеми; прогнозування; атомно-силова мікроскопія

Повний текст:

PDF

Посилання


Antonjuk V. S., Tymchyk Gr. S., Vercanova O. V. ta іn. Mikroskopija v nanotehnologіjah./ Kyiv, NTUU «KPІ», 2014. 260 p. (In Ukrainian)

Sharapov V.M. [i dr.]. P'ezojelektricheskie preobrazovateli. Spravochnoe posobie [Piezoelectric transformers. Certificate manual] / Pod red. Sharapova V. M. Cherkassy, ChGTU Publ., 2004. 435 p. (In Russian)

Andrienko V. A., Rjabcev V. G., Utkina T. Ju. Metod i sredstva povyshenija nadezhnosti zapominajushhih ustrojstv putem zameshhenija modulej pamjati [Method and facilities of increase of reliability of storages of data by substituting for the modules of memory]. Radіoelektronnі і komp’juternі sistemi, 2007, no 6 (25), pp. 192-195. (In Russian)

Suslov A. A. [i dr.] Atomno-silovoj mikroskop NT-206: novye vozmozhnosti [Atomic-force microscope of NT-206: new possibilities] // BelSZM-6: Sbornik dokladov 6-go Belorusskogo seminara po skanirujushhej zondovoj mikroskopii, 2004. Minsk, pp. 123-130.

Obshhestvo s dopolnitel'noj otvetstvennost'ju «Mikrotestmashiny» [Society with additional responsibility of «Mikrotestmashiny»]. 2006-2013. Available at: http://microtm.com/ (accessed: 21.11.2014).

Bondarenko M. A., Antonjuk V. S., Vashhenko V. A., Bondarenko Ju. Ju., Petlevanyj P. V. Izuchenie mehanizma obrazovanija perehodnoj zony v poverhnostnom sloe p'ezokeramicheskih izdelij nanotehniki. Nanoinzhenerija, 2011, no 6, pp. 25 – 29. (In Russian)

Logitech: »: [Jelektronnyj resurs]. 2014 URL: http://logitech.com/ (accessed: 21.11.2014)

Frolov V. A. Analiz i optimizacija v prikladnyh zadachah konstruirovanija RJeS [An analysis and optimization are in the applied tasks of constructing of REC]. Kyiv, Vyshha shkola Publ., 1991. 310 p. (In Russian)




DOI: https://doi.org/10.20535/1970.48(2).2014.36046

Посилання

  • Поки немає зовнішніх посилань.


Copyright (c) 2017 Рівні права