ДОСЛІДЖЕННЯ ТЕМПЕРАТУРНИХ ЕФЕКТІВ ПРИ РЕЄСТРАЦІЇ СПЕКТРІВ ФОТОЕЛЕКТРИЧНИМИ ДЕТЕКТОРАМИ

Автор(и)

  • Anatoliy Yegorov Інститут радіофізики та електроніки ім. О.Я. Усикова НАН України, м. Харків
  • Vadim Yegorov Інститут радіофізики та електроніки ім. О.Я. Усикова НАН України, м. Харків
  • Serge Yegorov Інститут радіофізики та електроніки ім. О.Я. Усикова НАН України, м. Харків
  • Liliya Yelenskaya Інститут радіофізики та електроніки ім. О.Я. Усикова НАН України, м. Харків
  • Igor Sinelnikov Інститут радіофізики та електроніки ім. О.Я. Усикова НАН України, м. Харків

DOI:

https://doi.org/10.20535/1970.48(2).2014.36034

Ключові слова:

атомно-емісійна спектроскопія, темновий струм, CCD детектор, температурні дослідження

Анотація

В статті представлені результати дослідження деяких характеристик темнового струму фотодекторних лінійок спектрометрів в залежності від температури. Вони підтверджують можливість визначення температури фотодетекторів програмними методами на основі одержаних при елементному аналізі даних без змін та переробки електротехнічної частини вимірювальної системи. Це дозволить компенсувати вплив деяких зовнішніх факторів та покращити точність аналізів в лабораторних та заводських умовах.

Посилання

TOSHIBA CCD LINEAR IMAGE SENSOR TCD1304AP Datasheet.

V.A. Yegorov, S.A. Yegorov. Automated atomic-emission spectrometer. Science and innovations. Kyiv. Akademperiodyka, v.4. №2. 2008, p.33-39. (in Russian)

I.Malyshev. Vvedenie v jeksperimental'nuju spektroskopiju.- M.: Nauka, 1979. 480 s. (in Russian)

A.Yegorov, V. Yegorov, S. Yegorov. Subpixel detection in the registration of spectrum images by photodiode structures. . “Radiophysics and Radioastronomy”. Kharkov. Radioastronomical Institute of National Academy of Sciences of Ukraine. 2009, v.14, №1, p. 77-83.

Yegorov A.D., Yegorov V.A., Yegorov S.A, Zdor E.V. The photometry of emission optical spectrum by line image sensors. “Radiophysics and Electronics”. Kharkov: Institute Radiophysics and Electronics of National Academy of Sciences of Ukraine - 2002, v.7, №2, p.422-425. (in Russian)

##submission.downloads##

Опубліковано

2014-12-29

Номер

Розділ

КОНТРОЛЬ І ДІАГНОСТИКА ПРОЦЕСІВ ТА СИСТЕМ В ПРИЛАДОБУДУВАННІ