МОЖЛИВІСТЬ ВИКОРИСТАННЯ СИСТЕМИ КЛИНІВ В ОГЛЯДОВИХ СИСТЕМАХ СПОСТЕРЕЖЕННЯ
DOI:
https://doi.org/10.20535/1970.48(2).2014.36022Ключові слова:
система спостереження, сканування, оптичний клинАнотація
Встановлено, що при кутах сканування в оптико-електронних системах спостереження (ОЕСС) більших 20° відносно осі об’єктива розміри оптико-механічної системи сканування плоским дзеркалом починають значно зростати пропорційно тангенсу кута сканування. Тому для зменшення габаритів оптико-механічної системи сканування, підвищення точності сканування, зменшення впливу вібрацій в даній статті пропонується сканування (огляд) простору здійснювати не коливаючим дзеркалом, а оптичними відхиляючими клинами. Розроблено метод визначення максимально допустимих кутів сканування системи оптичних клинів, які забезпечують вимоги по кутам візування в сучасних оптико-електронних системах спостереження (ОЕСС) Запропонований метод ґрунтується на максимально допустимому хроматизму клинів. Розглянуті приклади розрахунку максимально допустимих кутів візування оптико-механічних систем сканування для телевізійних і тепловізійних каналів систем спостереження. Отримані кути візування повністю задовольняють вимогам до сучасних наземних і повітряних ОЕССПосилання
Glushchenko A. R., Gordienko V. I., Burak A. V., Denisenko A. I͡U. Tankovye nochnye sistemy i pribory nabli͡udenii͡a. Cherkassy: PP Chabanenko I͡U. A., 2007. 442 p. (In Russian)
Filatov G., I͡Akobson S., Beglova N. Razvitie podvizhnykh nazemnykh kompleksov optiko-ėlektronnykh sredstv razvedki SV za rubezhom. Zarubezhnoe voennoe obozrenie, 2002, no 1, pp. 17 – 19. (In Russian)
Kolobrodov V. H., Lykholit M. I. Proektuvanni͡a teploviziĭnykh i televiziĭnykh system sposterez͡henni͡a: Pidruchnyk. Kyiv, NTUU “KPI” Publ., 2007. 364 p. (In Ukrainian)
Panov V. A., Kruger M. I͡A., Kulagin V. V. i dr. Spravochnik konstruktora optiko-mekhanicheskikh priborov. Pod obshch. red. V. A. Panova. Leningrad, Mashinostroenie Publ., 1980. 742 p. (In Russian)
Rusinov M. M., Grammatin A. P., Ivanov P. D. i dr. Vychislitel'nai͡a optika: Spravochnik. Pod. obshch. red. M. M. Rusinova. Leningrad, Mashinostroenie Publ., 1984. 423 p. (In Russian)
##submission.downloads##
Опубліковано
Як цитувати
Номер
Розділ
Ліцензія
Авторське право на публікацію залишається за авторами.
Автори можуть використовувати власні матеріали в інших публікаціях за умови посилання на збірник наукових праць "Вісник Київського політехнічного інституту. Серія ПРИЛАДОБУДУВАННЯ" як на перше місце видання та на Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського» як на видавця.
Автори публікують свої статті в збірнику на умовах ліцензії Creative Commons:
- Автори залишають за собою право на авторство своєї роботи та передають журналу право першої публікації цієї роботи на умовах ліцензії CC BY 4.0, яка дозволяє іншим особам вільно розповсюджувати опубліковану роботу з обов'язковим посиланням на авторів оригінальної роботи та першу публікацію роботи у цьому журналі.
- Автори мають право укладати самостійні додаткові угоди щодо неексклюзивного розповсюдження роботи у тому вигляді, в якому вона була опублікована цим журналом (наприклад, розміщувати роботу в електронному сховищі установи або публікувати у складі монографії), за умови збереження посилання на першу публікацію роботи у цьому журналі.
- Політика журналу дозволяє розміщення авторами в мережі Інтернет (наприклад, у сховищах установ або на особистих веб-сайтах) рукопису роботи, як до подання цього рукопису до редакції, так і під час його редакційного опрацювання, оскільки це сприяє виникненню продуктивної наукової дискусії та позитивно позначається на динаміці цитування опублікованої роботи.
Видавець (КПІ ім. Ігоря Сікорського) має право за будь-якого використання цього видання зазначати своє ім'я або вимагати такого зазначення.
Редакційна колегія залишає за собою право розміщувати опубліковані в збірнику статті в різних інформаційних базах для надання відкритого доступу до матеріалів з метою популяризації наукових досліджень та підвищення цитованості авторів.