ШЛЯХИ ВДОСКОНАЛЕННЯ ДІАГНОСТИЧНИХ ТЕСТІВ ЕНЕРГОНЕЗАЛЕЖНОЇ ПАМ`ЯТІ НА ПРИКЛАДІ DETAILED MARGINAL READ ТЕСТУ

Автор(и)

  • Oleksii Pavlovskyi Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського», Україна
  • Oleksandra Kotelnikova Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського», Україна

DOI:

https://doi.org/10.20535/1970.55(1).2018.135842

Ключові слова:

енергонезалежна пам’ять, Detailed Marginal Read тест, оцінка стану пам’яті

Анотація

Енергонезалежна пам’ять, яка є невід’ємною частиною будь-яких комп’ютеризованих систем, за своїм призначенням має безвідмовно працювати протягом експлуатаційного терміну у різних умовах довколишнього середовища. Для дослідження процесів старіння пам’яті і прогнозування втрати даних існує низка експериментальних дослідів, таких як кліматичні, температурні, збурюючі і т.д. Після обробки отриманих даних, приймається рішення про терміни використання модулів пам’яті, ступінь зносу, наявність та корекцію помилок у необхідний часовий проміжок. У статті наведено аналіз проблеми оцінки стану енергонезалежної пам’яті на прикладі Detailed Marginal Read (DMR) тесту. Приведено опис алгоритму DMR, проаналізовано залежність розподілення помилок за рівнями вичитування та виділено недоліки зазначеного алгоритму. Показанo можливість та підтвердженo ефективність вдосконалення алгоритму DMR за рахунок використання класичних алгоритмів пошуку.

Біографія автора

Oleksii Pavlovskyi, Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського»

к.т.н.,  доцент каф. ПСОН

Посилання

Denton T. AUTOMOBILE ELECTRICAL AND ELECTRONIC SYSTEMS. Tom Denton. Burlington: Butterworth-Heinemann publications, Third edition, p. 463, 2004.

ISO 26262-10:2012. Road vehicles -- Functional safety [Elektronnyiy resurs]. International Organization for Standardization. 2012. Available: https://www.iso.org/standard/54591.html.

Yoshio Noshi. Advances in Non-volatile Memory and Storage Technology. Oxford: Woodhead publishing, Woodhead publishing series in electronic and optical materials, no. 64, p. 513, 2014.

V. Andriyenko, V. Ivanenko, A. Honcharov, "Prediction Of The Periods Of Reliable Operation Of Microchips Of Radio Engineering Devices", Visnyk NTUU “KPI”. Seriya PRYLADOBUDUVANNYA, is. 48, pp. 125–130, 2014. (in Ukrainian)

K. Venkat, U. Haensel. Understanding MSP430 Flash Data Retention [Elektronnyiy resurs]. Texas Instruments - SLAA392. 2008. Available: http://www.ti.com/lit/an/slaa392/slaa392.pdf.

Tann H. Non-Volatile Memory: A review of past and present concepts and applications [Elektronnyiy resurs]. Available: https://pdfs.semanticscholar.org/0ff1/ed4b94c7f04305a01c0b5a54fb5bdcb960ce.pdf.

PXI Express Rukovodstvo po jekspluatacii NI PXIe-1075 [Elektronnyiy resurs]. Available: ftp://ftp.ni.com/pub/branches/russia/pxi/ni_pxie_1075.pdf.

O. Kotelnikova, O. Pavlovskyi. Development of hardware-software complex for estimation analysis of the state non-volatile memory. XI Conference of Young Scientists «Elektronika-2018». 2018. (in Ukrainian)

##submission.downloads##

Опубліковано

2018-06-29

Як цитувати

[1]
O. Pavlovskyi і O. Kotelnikova, «ШЛЯХИ ВДОСКОНАЛЕННЯ ДІАГНОСТИЧНИХ ТЕСТІВ ЕНЕРГОНЕЗАЛЕЖНОЇ ПАМ`ЯТІ НА ПРИКЛАДІ DETAILED MARGINAL READ ТЕСТУ», Bull. Kyiv Polytech. Inst. Ser. Instrum. Mak., вип. 55(1), с. 89–93, Чер 2018.

Номер

Розділ

АВТОМАТИЗАЦІЯ ТА ІНТЕЛЕКТУАЛІЗАЦІЯ ПРИЛАДОБУДУВАННЯ